Misc - 木曽田　賢治

マルチフェロイックHo₃Fe₅O₁₂薄膜のラマン散乱による研究

隣信彦, 福村秀夫, 蓮池紀幸, 播磨弘, 木曽田賢治, 小出卓史, 関宗俊, 田畑仁

応用物理学関係連合講演会講演予稿集   55th ( 2 )   2008年

BiFeO₃薄膜におけるBi過剰表面層の顕微ラマン散乱観察

中村和謙, 福村秀夫, 蓮池紀幸, 播磨弘, 木曽田賢治, 中村嘉孝, 中嶋誠二, 奥山雅則

応用物理学関係連合講演会講演予稿集   55th ( 2 )   2008年

YMnO₃薄膜の電界印加ラマン散乱観察

隣信彦, 福村秀夫, 蓮池紀之, 播磨弘, 木曽田賢治, 前田和弘, 吉村武, 藤村紀文

応用物理学会学術講演会講演予稿集   69th ( 2 )   2008年

軟X線照射による単層カーボンナノチューブの構造変化

岩本和也, 溝口大輔, 魚留勝也, 伊東千尋, 木曽田賢治

応用物理学関係連合講演会講演予稿集   55th ( 2 )   2008年

軟X線照射による単層カーボンナノチューブの構造変化

岩本和也, 魚留勝也, 伊東千尋, 木曽田賢治

光物性研究会論文集   19th   2008年

UV-VIS Raman Characterization of High Dose Ultra Shallow Implanted Silicon before and after Excessive Annealing

SASAKI T., MINAMI H., KISODA K., YOO W. S., YOSHIMOTO M., HARIMA H.

Extended abstracts of the ... Conference on Solid State Devices and Materials   2007   360 - 361   2007年09月

Bi/Fe組成比の異なるゾルゲル溶液から作製したBiFeO₃薄膜のラマン散乱観察

中村和謙, 福村秀夫, 蓮池紀幸, 播磨弘, 木曽田賢治, 中村嘉孝, YUN K.Y., 中嶋誠二, 奥山雅則

応用物理学会学術講演会講演予稿集   68th ( 2 )   2007年

YMnO₃強誘電性-常誘電性相転移のラマン散乱観察

福村秀夫, 播磨弘, 木曽田賢治, 高橋哲也, 吉村武, 藤村紀文

応用物理学関係連合講演会講演予稿集   54th ( 2 )   2007年

Deep-UV Raman scattering analysis of re-crystallization in ultra-shallow junction implanted Si under various annealing conditions

Takashi Sasaki, Shintaro Nishibe, Hiroaki Minami, Kenji Kisoda, Toshiyuki Isshiki, Masahiro Yoshimoto, Sik Yoo Woo, Hiroshi Harimal

Extended Abstracts of the 7th International Workshop on Junction Technology, IWJT 2007     35 - 38   2007年

DOI

マルチフェロイックYMnO₃薄膜のラマン散乱による研究

福村秀夫, 松井智司, 播磨弘, 木曽田賢治, 高橋哲也, 吉村武, 藤村紀文

応用物理学会学術講演会講演予稿集   67th ( 2 )   2006年

カーボンナノチューブの光構造変化

魚留勝也, 伊東千尋, 木曽田賢治

光物性研究会論文集   17th   2006年

Raman study of low-temperature formation of nickel silicide layers

T. Sasaki, S. Nishibe, H. Harima, T. Isshiki, M. Yoshimoto, K. Kisoda, W. S. Yoo, T. Fukada

14th IEEE International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, RTP 2006     217 - 222   2006年

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Low-temperature formation processes of Ni suicide were studied by Raman scattering and cross-sectional transmission electron microscopy (TEM) using Si wafer samples deposited with thin Ni layers. Comparisons were made between two annealing methods
cold wall, lamp based rapid thermal process (lamp RTP) and a hot wall chamber RTP system. . The TEM and Raman observations showed good agreement on the Ni silicidation scheme at the Ni/Si interface. It is shown that Raman scattering spectroscopy is a convenient, non-contact and non-destructive characterization tool to probe and investigate the Ni-silicide formation process in the top nm-order surface of metal/Si contact, as well as to monitor the grain size variation of the suicides and residual stress in the Si wafer. © 2006 IEEE.

DOI

Development of an Ultrasensitive Gas Sensor Based on Single-Walled Carbon Nanotubes

WONGWIRIYAPAN Winadda, HONDA Shin-ichi, KONISHI Hirofumi, MIZUTA Tomoaki, OHMORI Takafumi, ITO Tatsuya, MAEKAWA Toru, SUZUKI Kengo, ISHIKAWA Hiroshi, MURAKAMI Toshiya, KISODA Kenji, HARIMA Hiroshi, OURA Kenjiro, KATAYAMA Mitsuhiro

Extended abstracts of the ... Conference on Solid State Devices and Materials   2005   1006 - 1007   2005年09月

一次元混合金属錯体[Cu(chxn)2][PtX2(chxn)2]X4(X=Cl, Br)の原子価構造と鎖上のスピン挙動の研究

青木裕史, 木曽田賢治, 木村憲喜

和歌山大学教育学部紀要(自然科学)   55   1 - 3   2005年02月

-M(II)-X-Pt(IV)-X-型錯体[M(en)_2][PtX_2(en)_2](NO_3)_4(M: Pd, Pt; X: Cl, Br)における^<13>C固体NMR、ESR、IRの研究

木村 憲喜, 長谷川 純子, 木曽田 賢治, 池田 龍一

和歌山大学教育学部紀要. 自然科学   54   29 - 32   2004年02月

24pSA-9 マグネリ相Mo_nO_<3n-1>の赤外反射スペクトル II(24pSA 化合物半導体,層状・低次元物質,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在分野))

根岸 寛, 根岸 彩子, 寺上 光司, 福井 一俊, 木曽田 賢治, 岡村 英一

日本物理学会講演概要集 ( 一般社団法人 日本物理学会 )  57 ( 0 ) 620 - 620   2002年

20aYJ-4 マグネリ相Mo_nO_<3n-1>の赤外反射スペクトル

根岸 彩子, 根岸 寛, 寺上 光司, 福井 一俊, 木曽田 賢治, 岡村 英一, 佐々木 実

日本物理学会講演概要集 ( 一般社団法人 日本物理学会 )  56 ( 0 ) 563 - 563   2001年

25aTF-13 擬2次元導体η-Mo_4O_<11>におけるフォノン振動数と格子定数

木曽田 賢治, 根岸 寛, 播磨 弘

日本物理学会講演概要集 ( 一般社団法人 日本物理学会 )  55 ( 0 ) 685 - 685   2000年

29p-ZG-12 YBCO膜におけるコヒーレントフォノン

木曽田 賢治, Misochko Oleg V, 播磨 弘, 溝口 幸司, 中島 信一, 阪井 清美

日本物理学会講演概要集 ( 一般社団法人 日本物理学会 )  54 ( 0 ) 202 - 202   1999年

2p-YG-3 Optical study of the Mott transition in V_2O_3 by femtosecond spectroscopy

MISOCHKO O.V, TANI M., SAKAI K., KISODA K., NAKASHIMA S.

日本物理学会講演概要集 ( 一般社団法人日本物理学会 )  53 ( 1 ) 215 - 215   1998年03月